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光干渉顕微鏡システム

非接触で高精度な表面トポグラフィ評価を実現

マテリアルサイエンス分野の研究開発から品質管理・品質保証プロセスまで、
幅広い用途に対応しています。

  • BW-M7000

    大型ステージと自動測定機能により、研究開発から品質管理・品質保証プロセスまでカバーする表面トポグラフィ評価装置。

  • BW-S500シリーズ

    研究開発のための表面トポグラフィ評価装置。

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